Nhận dạng vân tay khiếm khuyết sử dụng ngưỡng toàn cục

  • Nguyễn Lương Nhật
Keywords: FVC2002, FCV2004, tăng cường ảnh, vân tay khiếm khuyết.

Abstract

Trong những năm gần đây, nhận dạng vân tay là một vấn đề được nghiên cứu rất phổ biến, các kỹ thuật nhận dạng được áp dụng trong cả lĩnh vực dân sự và pháp y. Tuy nhiên, tiến trình nhận dạng bị hạn chế với các mẫu vân tay không đầy đủ hoặc có chất lượng kém. Trong bài báo này, chúng tôi đề xuất một thuật toán tăng cường ảnh để có thể khôi phục đáng kể các ảnh vân tay chất lượng kém. Ngoài ra phương pháp sử dụng ngưỡng toàn cục cũng được áp dụng trong quá trình so khớp mẫu nhằm mục đích giảm tỉ lệ chấp nhận sai và từ chối sai.

Published
2020-03-14